EC-770一體涂層測厚儀介紹-中文 V1.2 

產品特色

　　大點陣液晶屏，標準化菜單操作；

　　兩種測量模式：單次（Single）和連續（Continuous）；

　　兩種組模式：直接組（DIR）和通用組（GEN），一個直接組和四個通用組，每組可存儲80個數據；

　　可零校準和多點校準（多四點）。各組有單獨的零校準和多點校準，組與組之間不影響；

　　用戶可隨時查看當前工作組已測得的數據，并刪除數據或整組數據；

　　實時顯示當前工作組統計值：平均值（Mean），小值（Min），值（Max），標準方差（Sdev）；

　　三種探頭模式： 自動（Auto）、磁感應（Magnetic）和渦流（Eddy Current）；

　　可為各組單獨設置高低限報警值，超*屏幕指示報警；

　　可開啟或關閉自動關機功能；

　　USB接口可傳輸通用組數據到計算機；

　　低電和錯誤提示；

EC-770一體涂層測厚儀介紹-中文 V1.2 

應用場景

　　本儀器能無損傷、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它能廣泛應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域，是材料表面處理工程*的儀器。它可以穩定地工作于實驗室、車間現場和戶外。

　產品描述

　　EC-770測厚儀，能同時測量磁性基材表面（如鋼、鐵等）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層（如油漆等）。本儀表內置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結果。同時，測量數據可分組保存，并實時顯示統計值。用戶可分別為每組設置上下限報警值、零校準、多點校準。全新的多點校準和零校準，讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。

技術指標

　　1.測量原理：磁感應（F探頭）；渦流效應（N探頭）；

　　2.測量范圍：0~1300um；

　　3.測量精度（典型值）：± （讀數的3%+2um）；

　　4.分辨率：0um~99um（0.1um）， 100um~999um （1um）， 1000um~1300um （0.01mm）；

　　5.校準：零點校準，并支持多4點校準；

　　6.數據存儲與分組：一個直接組（數據不保存）和四個通用組（數據可被保存），每組有單獨的統計，報警上下限設置和校準設置；

　　7.統計值：支持平均值、小值、值和標準方差；

　　8.支持單位：um, mm, mils；

　　9.報警：用戶可設置上下報警限，當發生報警時，液晶屏幕可顯示提示；

　　10.小曲率半徑：凸1.5mm，凹25mm；

　　11.小測量面積：直徑6mm；

　　12.小基材厚度：0.5mm（F探頭）；0.3mm（N探頭）；

　　13.電腦接口：可通過USB口連接計算機下載數據；

　　14.電源：兩節1.5V AAA電池；

　　15.操作溫度：0~40℃；

　　16.保存溫度：--20℃ to 70℃；

　　17.尺寸：110mm*53mm*24mm；

　　18.重量：92g；

• ZP-C350測厚儀
• SW6高精度超聲波測厚儀
• ZP-C350超聲測厚儀
• UM-3精密超聲波測厚儀